在材料科學(xué)、化學(xué)、物理及地質(zhì)等前沿科研領(lǐng)域，如何精準(zhǔn)、高效地解析物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，一直是科學(xué)家們追求的目標(biāo)。束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司，作為布魯克AXS公司的優(yōu)質(zhì)合作伙伴，為您帶來一款能夠徹底改變實(shí)驗(yàn)體驗(yàn)的科研利器——布魯克D8 ADVANCE X射線衍射儀。它不僅是解碼材料微觀世界的“通用指紋識別器”，更是您科研道路上值得信賴的伙伴。

顛覆性創(chuàng)新，讓復(fù)雜變簡單

傳統(tǒng)的X射線衍射儀在面對不同類型的樣品和應(yīng)用時(shí)，往往需要繁瑣的光路切換和重新對光，耗時(shí)且易出錯(cuò)。布魯克D8 ADVANCE徹底顛覆了這一現(xiàn)狀，其核心在于兩大創(chuàng)新技術(shù)：

• TWIN / TWIN™ 光路設(shè)計(jì)：這項(xiàng)獲得專屬發(fā)明的設(shè)計(jì)，如同為儀器裝上了智能“雙翼”。它可以在Bragg-Brentano聚焦幾何（適用于粉末樣品的定性定量分析）和平行光束幾何（適用于薄膜、涂層的掠入射和反射率分析）之間實(shí)現(xiàn)全自動無縫切換。無論您的樣品是粉末、塊狀物體、纖維還是薄膜，D8 ADVANCE都能以最佳狀態(tài)應(yīng)對，無需人工干預(yù)，極大地簡化了操作流程。
• TWISTTUBE™ 技術(shù)：這是另一項(xiàng)革命性的突破。它讓使用者能夠在短短1分鐘內(nèi)，輕松完成從線光源應(yīng)用（如常規(guī)粉末分析）到點(diǎn)光源應(yīng)用（如織構(gòu)、應(yīng)力分析）的轉(zhuǎn)換。曾經(jīng)令人頭疼的光路互換和重新對光問題，從此成為歷史。

卓越性能，成就非凡洞察

D8 ADVANCE不僅操作簡便，其性能指標(biāo)同樣卓越，能夠滿足您對數(shù)據(jù)質(zhì)量的極致追求。

• 超乎想象的靈敏度與速度：搭載了旗艦級的LYNXEYE XE-T 陣列探測器，其探測靈敏度比傳統(tǒng)探測器提高了高達(dá)150倍。這意味著您可以在更短的時(shí)間內(nèi)獲得信噪比更高、細(xì)節(jié)更豐富的數(shù)據(jù)，實(shí)驗(yàn)效率大幅提升。
• 無與倫比的數(shù)據(jù)質(zhì)量：獨(dú)有的動態(tài)光束優(yōu)化（DBO）功能，通過馬達(dá)驅(qū)動的狹縫、防散射屏和探測器窗口的自動同步，確保了在所有角度，尤其是在低角度區(qū)域，都能獲得無可替代的優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)。
• 極致精準(zhǔn)的測角儀：高精度的測角儀保證了在全譜范圍內(nèi)的測量，每一個(gè)衍射峰的峰位誤差都不超過0.01度，為您提供最可靠的分析基礎(chǔ)。

一機(jī)多能，覆蓋廣泛科研需求

一臺D8 ADVANCE，即可滿足您實(shí)驗(yàn)室多樣化的分析需求，堪稱“全能型”選手。其主要應(yīng)用涵蓋：

• 物相分析：快速進(jìn)行物相的定性與定量分析，測定結(jié)晶度及非晶相含量。
• 結(jié)構(gòu)精修：精確測量點(diǎn)陣參數(shù)，進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)的解析與精修。
• 微觀形貌與應(yīng)力：分析晶粒尺寸、微觀應(yīng)變、殘余應(yīng)力及織構(gòu)（擇優(yōu)取向）。
• 薄膜與涂層：通過掠入射衍射（GID）和X射線反射率（XRR）技術(shù)，精確測定薄膜厚度、密度和界面粗糙度。
• 前沿探索：支持對分布函數(shù)（PDF）分析，深入探究納米材料、無序材料的局部結(jié)構(gòu)信息。