技術文章
TECHNICAL ARTICLES地外樣品中的有機質研究對于揭示生命起源以及探索太陽系前生命分子的形成與演化機制具有極其重要的意義。近年來，日本隼鳥2號（龍宮小行星）與NASA冥王號（貝努小行星）任務均成功返回了含有復雜有機質的樣品。我國也積極部署了天問二號與天問三號深空探測任務，旨在實現(xiàn)小行星和火星樣品的采集返回，而其有機質分析則是實現(xiàn)科學目標的重要挑戰(zhàn)。然而，當前針對小行星樣品中有機質的研究主要依賴于兩種技術路徑：其一是基于紅外光譜、拉曼光譜等技術實現(xiàn)官能團的原位表征；其二是通過質譜技術檢測羧酸、氨基酸等...
在廣袤的地球表層之下，蘊藏著無數(shù)珍貴的礦產(chǎn)資源和復雜的地質構造。如何精準識別這些寶藏并揭示其形成機制？XRD（X射線衍射）系統(tǒng)作為現(xiàn)代分析技術的利器，正以其優(yōu)勢成為地質礦產(chǎn)研究的得力助手。它通過解讀礦物晶體的結構信息，為資源勘探與開發(fā)提供科學依據(jù)。XRD系統(tǒng)的工作原理基于布拉格定律，即當單色X射線照射到晶體樣品時，會因原子面的周期性排列產(chǎn)生特征性的衍射圖案。這種圖案包含了晶格常數(shù)、原子間距及對稱性等關鍵參數(shù)。借助先進的探測器和算法軟件，研究人員能夠快速獲取高質量的衍射譜圖，進...
在地球科學的宏大敘事中，地質礦物學扮演著至關重要的角色。而高分辨衍射儀深入探究巖石和礦物的內部世界，為揭示地球演化歷程、尋找礦產(chǎn)資源以及理解地質災害機制提供了關鍵線索。高分辨衍射儀基于X射線或中子束與晶體相互作用產(chǎn)生的衍射現(xiàn)象工作。當這些射線穿透礦物樣本時，它們會因原子面的周期性排列而發(fā)生干涉，形成特定的衍射圖譜。通過解析這些圖譜中的峰值位置、強度及寬度等參數(shù)，科學家能夠獲取關于礦物晶體結構、晶胞參數(shù)、相組成乃至微觀應力狀態(tài)的詳細信息。相較于傳統(tǒng)方法具有更高的精度和靈敏度，能...
Lexsyg釋光探測器|在地質測年領域應用分享“告別測年‘短壽’時代！Lexsyg系統(tǒng)解鎖VSL技術深時潛力”文章來源：https://doi.org/10.1016/j.radmeas.2015.05.001引言：石英測年的瓶頸與曙光在考古與地質測年中，石英的OSL（光釋光）技術因信號飽和劑量低（通常kGy）成為突破百萬年測年瓶頸的新希望。一項發(fā)表于《RadiationMeasurements》的研究，借助lexsyg高精度釋光系統(tǒng)，系統(tǒng)揭示了沉積石英后藍光VSL信號的特性...
應用分享-晶體日記（二十五）：APEX6的正確打開方式（XRD軟件）布魯克X射線部門張振義要寫這個系列的原因，是因為即便講了很多APEX多種多樣的功能。然而在知識的傳遞過程中，變得越來越少，甚至本來靈活的概念被莫名的固定化。當然這是很多同學所期望的-“我只要答案就夠了”。然而學習的意義很多時候不在于獲得答案，而在于不被錯誤的答案所迷惑。APEX6已經(jīng)發(fā)布了大半年，雖然眾口難調，很多功能還沒有完善，但是目前在測試的版本越來越符合我的口味，走向專業(yè)和自動化融合的道路。不過很多人對...
光電子能譜是一種通過光子激發(fā)材料表面電子并分析其動能和能量分布的表面分析技術。在PES實驗中，如何有效區(qū)分一次電子（直接由入射光子激發(fā)的電子）和二次電子（非彈性散射產(chǎn)生的電子）信號，是獲得高質量譜圖數(shù)據(jù)的關鍵。以下是實現(xiàn)這一目標的核心方法和技術原理。一、一次電子與二次電子的產(chǎn)生機制1、一次電子一次電子是材料表面原子或分子中的電子直接吸收入射光子能量后逸出的光電子。其動能由光子能量和電子結合能決定。2、二次電子二次電子是一次電子或入射光子在材料內部經(jīng)歷非彈性散射后產(chǎn)生的低能電子...
在材料科學與地質研究的廣袤天地里，多晶X射線衍射儀，憑借其原理與強大功能，開啟眾多測試對象微觀結構分析的大門。對于各類無機非金屬材料，以陶瓷為例，無論是日常所用的精美瓷具，還是工業(yè)領域的耐高溫陶瓷零部件，多晶X射線衍射儀都能大顯身手。通過向陶瓷樣品發(fā)射X射線并接收衍射信號，精準確定陶瓷的物相組成，分辨出是莫來石、石英還是其他晶相，為優(yōu)化燒制工藝、調控性能提供關鍵依據(jù)。在水泥生產(chǎn)中，它能檢測熟料礦物成分，確保水泥質量穩(wěn)定，從微觀層面把控強度、凝結時間等宏觀性能。玻璃這種看似均質...
在材料科學、化學分析以及生命科學等眾多前沿領域中，TOF-SIMS（飛行時間二次離子質譜）質譜儀以其優(yōu)勢成為了一種極為重要的分析工具。它能夠在分子水平上對樣品表面進行化學成分和結構的表征，而其模式的合理設置則是實現(xiàn)高質量分析結果的關鍵所在。TOF-SIMS質譜儀基于二次離子發(fā)射的原理開展工作。當一束脈沖式的初級離子束轟擊樣品表面時，會引發(fā)樣品表面的原子或分子產(chǎn)生電離，形成二次離子并濺射出來。這些二次離子隨后被加速、飛行，并根據(jù)其質荷比在飛行時間探測器中被檢測和分析，從而獲得樣...
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