技術文章
TECHNICAL ARTICLES目前的半導體產業(yè)正面臨CMOS微縮極限的挑戰(zhàn),業(yè)界需要通過半導體封裝技術的不斷創(chuàng)新和發(fā)展來彌補性能上的差距。不過，這同時也帶來了日益復雜的封裝架構和新的制造挑戰(zhàn),當然，同時更是增加了封裝故障的風險。而這些發(fā)生故障的位置往往隱藏于復雜的三維結構之中,傳統(tǒng)的故障位置確認方法似乎已經難以滿足高效分析的需求了。因此，行業(yè)需要新的技術手段來有效地篩選和確定產生故障的根本原因。而可以無損表征樣品三維結構的XRM技術剛好迎合了半導體行業(yè)的這一需求，通過提供亞微米和納米級別的3D圖像，這一技...
XRM技術在生命科學領域中有著非常廣泛的應用，高分辨斷層三維掃描主要可以應用于骨科學、口腔科學、植物學以及醫(yī)學領域中的呼吸系統(tǒng)研究、血管系統(tǒng)研究以及生物制藥研究等方面。這其中，骨科學是早引入XRM技術的，且目前的應用情況為成熟。實例大鼠骨小梁局部壁厚分布三維表征，BrukerSkyscan1276骨活檢，機械載荷，BrukerSkyscan1275羊骨，鈦植入物三維形貌表征，BrukerSkyscan1275小鼠脛骨壁厚分布三維體渲染圖，BrukerSkyscan1272雌性...
隨著藥物晶型監(jiān)管力度逐步增加，單純的定性分析原料藥API或制劑中的晶型已不能滿足質量研究的要求，對藥物制劑中的有效晶型的定量分析，是藥物生產中質量控制過程中非常重要的環(huán)節(jié)。X射線粉末衍射可用于定量混合物中結晶相的強大技術，其可以提供每個物相0.1-1wt.%的檢出限，廣泛應用于制藥工業(yè)、材料學研究等工業(yè)、學術應用的定量分析。目前對于藥物制劑中的晶型或是雜質定量分析方法有標準曲線法（圖1），Rietveld全譜擬合法（圖2）等。除了常規(guī)的定量分析PXRD還能對藥物制劑進行結晶度...
電池材料中所含物質的晶體結構可以通過分析x射線衍射圖譜來獲得。而在電池材料結構精修以及電化學原位XRD應用中，通過電化學原位XRD實時檢測充放電過程中的x射線衍射圖譜可以進一步探究材料的結構演變規(guī)律，進而加深對電池結構的認識。實例一鈉電池層狀正極材料XRD結構精修我們以常見的P2相鈉離子電池層狀正極材料為例展開應用研究，P2型的NaxTMO2有兩種過渡金屬層（AB和BA），鈉離子位于三棱柱的位置并且也有兩種不同的配位環(huán)境，分別稱為Nae和Naf位點。兩個位點由于距離過近庫侖斥...
在過去的十年中，增材制造（AM）迎來了高速發(fā)展的時期，它作為一種創(chuàng)造性的技術對整個制造業(yè)領域產生了創(chuàng)造性意義的影響。然而，在零件終質量與性能的提升的過程中仍然有許多障礙需要克服，也需要借助不同的科研手段，這其中XRM作為一種無損分析的技術，可以獲得一個完整樣品高精細的三維形貌，并廣泛應用于增材制造零件的整個生命周期，包括工藝開發(fā)、工藝監(jiān)控和終零件質量檢測。實例一3D粉末篩選及質控檢測，BrukerSkyscan1272,0.8um.3D打印粉末材料粉末正交三視圖及三維體渲染圖...
除了對已知晶型的定性定量分析外。對于一些無法獲得合適尺寸單晶的藥物分子，我們可以PXRD獲得高質量的衍射圖譜，進而解析藥物分子的晶體結構，從而獲得更詳細的晶型結構信息。常用的方法包括模擬退火和Charge-flipping，進而通過Rietveld法對晶體結構進行精修（圖1）diffractiondatawithDASH:thestateoftheartａndchallenges（圖1）粉末XRD解析的分子結構上一篇我們講到了，PDF（PairDistributionFunc...
引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結構，具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容，而且具有更好的水熱穩(wěn)定性，有利于它在溫度較高、體系中有水的反應中應用，因此在催化、分離、生物及納米材料等領域有廣泛的應用前景。SBA-15結構特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關聯(lián)，而XRD是表征其結構的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大，其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度，這導致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號。目前，隨著衍射儀的發(fā)展，動態(tài)光路的設計很好的解決了這類問題。案...
在現(xiàn)代科學領域，人類對于微觀世界的探索一直是持續(xù)不斷的。為了深入了解物質的本質和結構，科學家們開發(fā)了各種先進的顯微技術。其中，X射線三維顯微鏡(X-ray3Dmicroscopy)無疑是最引人注目的突破之一。該三維顯微鏡是一種基于X射線原理的顯微鏡技術，利用高能量的X射線穿透樣品并捕獲其反射或散射圖像，從而獲得物體的三維結構信息。相較于傳統(tǒng)的光學顯微鏡，三維顯微鏡具有更高的分辨率和穿透力，可以觀察到更小、更密集的樣品區(qū)域，揭示出其微觀結構的奧秘。X射線三維顯微鏡的工作原理非常...
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